Liitiumpatareide punnis võib olla põhjustatud järgmistest põhjustest:
1. Liitiumaku kühm, mis on põhjustatud ülelaadimisest
Ülelaadimine paneb kõik positiivse elektroodi materjalis olevad liitiumioonid kokku jooksma negatiivse elektroodi materjaliga, põhjustades positiivse elektroodi esialgse täisvõrgu deformeerumise ja kokkuvarisemise. Selle protsessi käigus muutub negatiivse elektroodi liitiumioone üha enam ja liigne kogunemine paneb liitiumiaatomid kännud kasvatama. Kristallisatsioon, mis põhjustab aku punni. See on ka liitiumpatareide võimsuse vähenemise peamine põhjus.
2. Ülelaadimisest põhjustatud muhke
SEI-kilel on negatiivse elektroodi materjalile kaitsev toime, mistõttu materjali struktuur ei lagune kergesti ja võib pikendada elektroodi materjali tsükli eluiga. SEI-kile muutub laadimis- ja tühjendusprotsessi ajal veidi, peamiselt seetõttu, et mõned orgaanilised ained muutuvad pöörduvalt. Pärast aku liigset tühjenemist on SEI-kile pöörduvalt kahjustatud ja negatiivse elektroodi materjali kaitsev SEI hävib, põhjustades negatiivse elektroodi materjali kokkuvarisemise, moodustades liitiumaku punni. Kui kasutatav laadija ei vasta nõuetele, võib see põhjustada aku punni, põhjustada ohutusõnnetuse või isegi plahvatuse.
3. Tootmisprotsessi probleemid
Liitiumakude valmistamisel on elektroodide kate ebaühtlane ja tootmisprotsess suhteliselt konarlik, mis võib samuti põhjustada liitiumaku punni.
Seetõttu tuleb mobiiltelefonide liitiumakusid pärast nende valmistamist testida, sealhulgas välimuse testimine, ohutuse testimine, töökindluse testimine ja elektrokeemiline testimine. Liitiumakude testimise tõhususe parandamiseks ja testi stabiilsuse tagamiseks saab mobiiltelefoni liitiumaku testide ühenduskandjana kasutada aku testimismoodulit – šrapnell-mikronõela moodulit. See tagab peamiselt suure voolu ülekande ja signaaliühenduse. Säilitage stabiilne liigvooluvõime -50A vahemikus, usaldusväärne ühendus ja stabiilne jõudlus.
